制造商零件编号：SN74LVTH182502APM

制造商：Texas Instruments

描述：IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP

系列：74LVTH

逻辑类型：ABT 扫描测试设备，带通用总线收发器

电源电压：2.7 V ~ 3.6 V

位数：18

工作温度：-40°C ~ 85°C

安装类型：表面贴装

封装/外壳：64-LQFP

供应商器件封装：64-LQFP（10x10）

TI(德州仪器) - SN74LVTH182502APM - IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP